Zygo公司宣布ZYGO研发主任Peter de Groot博士已被选为SPIE（国际光学工程学会）研究员。de Groot博士因其在高精度干涉测量（ZYGO的一项核心技术）方面的多项成就而获此殊荣。

    ZYGO公司主席兼CEO Bruce Robinson说：“我们为我们的研发团队中有de Groot博士这样的技术专家而感到骄傲。Peter是我们半导体研发团队前进的原动力，使得ZYGO在激烈的市场竞争中保持强有力的技术领先地位。”

    SPIE认为de Groot博士是光学测量工具的发明者与开发者，拥有已发表与未发表共75余项专利、100个奖项，他是光学测量领域真正多产的、领先的发明家。

    每年，SPIE都会从学会成员中选择72位新的研究员。这些研究员都是在光学、光子学和成像多学科领域做出重大科研与技术贡献的成员。SPIE在138个不同国家拥有超过188000名成员。

（编辑：文静）

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